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【晶圓測溫系統(tǒng)】半導(dǎo)體電阻率隨溫度波動(dòng)什么樣的?半導(dǎo)體的電阻率怎么測量

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闡述了半導(dǎo)體材料的電阻率隨溫度動(dòng)態(tài)變化及檢測方法。晶圓測溫系統(tǒng)

1.半導(dǎo)體電阻率隨溫度波動(dòng)什么樣的

常溫下,半導(dǎo)體的電阻率一般比金屬和導(dǎo)體大得多。和金屬不一樣的是,半導(dǎo)體電阻率一般會隨著溫度上升而降低,這被稱作反常電阻率效應(yīng)。

半導(dǎo)體電阻率隨溫度波動(dòng)的具體規(guī)律性在于半導(dǎo)體自身的特點(diǎn),常見的就是:晶圓測溫系統(tǒng)

金屬試品:電阻率隨溫度線性加強(qiáng)

硅:電阻率隨溫度呈現(xiàn)負(fù)溫度系數(shù),即隨溫度上升而減少

鍺:電阻率也呈現(xiàn)出負(fù)溫度系數(shù)

2.半導(dǎo)體的電阻率怎么測量

TC Wafer.jpg

半導(dǎo)體的電阻率測量通常使用四探針法。四探針法是一種精準(zhǔn)測量材質(zhì)電阻率的辦法,它能消除接觸電阻和引線電阻的影響,特別適合半導(dǎo)體這種高阻材質(zhì)。

其基本概念要在待測試品上施加一個(gè)小電流,根據(jù)四根探針測量試品表層的電勢差來計(jì)算出電阻率。為了保證測量精度,必須通過空氣大氣壓力、溫度等因素的校正來減少誤差。晶圓測溫系統(tǒng)

TC Wafer廠家.jpg

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